涂层测厚仪

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宇问EC-770涂层测厚仪

产品介绍

    宇问EC-770涂层测厚仪,能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准,让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单,确保您非常容易的使用它。

特点:

A.大点阵液晶屏,标准化菜单操作;

B.两种测量模式:单次(Single)和连续(Continuous);

C.两种组模式:直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组。直接组关机后数据自动全部清除。通用组数据将自动保存,关机不丢失。每组可存储80个数据;

D.可零校准和多点校准(最多四点)。各组有单独的零校准和多点校准,组与组之间不影响;

E.用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除指定数据或整组数据;

F.实时显示当前工作组统计值:平均值(Mean),最小值(Min),最大值(Max),标准方差(Sdev);

G.三种探头模式:自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current);

H.可为各组单独设置高低限报警值,超限时屏幕指示报警;

I.可开启或关闭自动关机功能

J.USB接口可传输通用组数据到计算机

K.低电和错误提示

 

指标:

1.测量原理:磁感应(F探头);涡流效应(N探头)

2.测量范围:0~1300um

3.测量误差:± (读数的3%+2um);

4.精度:0um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm);

5.校准:零点校准,并支持最多4点校准

6.数据存储与分组:一个直接组(数据不保存)和四个通用组(数据可被保存),每组有单独的统计,报警上下限设置和校准设置。

7.统计值:支持平均值、最小值、最大值和标准方差。

8.支持单位:um, mm, mils

9.报警:用户可设置上下报警限,当发生报警时,液晶屏幕可显示提示。

10.最小曲率半径:凸1.5mm,凹25mm

11.最小测量面积:直径6mm

12.最小基材厚度:0.5mm(F探头);0.3mm(N探头)

13.电脑接口:可通过USB口连接计算机下载数据

14.电源:两节1.5V AAA电池

15.操作温度:0~40℃


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